• 発表日 2024/08/17
  • 2024年度 精密工学会 北海道支部 学術講演会 （2024年度学術講演会技術賞　受賞）
  • DOIコード －

光学解析を用いたアーチファクト推定手法の開発（第３報）

X線CT装置を用いた非破壊検査では撮像時や画像再構成後に表れるアーチファクト（AF）が問題となるため，発生要因の推定や低減手法の検討を目的として解析的なアプローチに取り組んでいる．前報では，光学解析ツールとCADモデルを用いた疑似透過画像と疑似断層画像の生成を試みた結果，実画像にはないいくつかのノイズが確認された．本研究では，ノイズを低減するために光学解析の照射条件を変更した結果を報告する．
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