• 発表日 2023/08/26
  • 2023年度 精密工学会 北海道支部 学術講演会 （2023年度学術講演会技術賞　受賞）
  • DOIコード －

光学解析を用いたアーチファクト推定手法の開発（第2報）

X線CT装置を用いた非破壊検査では撮像時や画像の再構成後に表れるアーチファクト(AF)が問題となる．光学解析によるCT計測シミュレーションによりAFが模擬できると，発生要因推定や低減手法検討に役立てることができる．前報では，光学解析を用いた疑似透過画像の生成を試み，疑似透過画像がX線CT計測で得られる透過画像の明暗と同じ傾向を示すことを確認した．本研究では，光学解析で生成した疑似透過画像を用いた再構成による疑似断層画像の生成を試みた．
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